PT-930

12英寸全自动探针台

国内首款量产型12英寸高精度全自动探针台，适用于8~12英寸集成电路及功率器件等芯片的测试

PT-9200HLS

高低温全自动探针台

适用于8-12英寸集成电路晶圆的自动探针测试。尊龙凯时整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点；自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要；面板可翻转，方便维护；搭载大尺寸的磨针台，适应不同的磨针方式，多样化的定制功能

PT-9200

8英寸全自动探针台

适用于5～8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。尊龙凯时整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点；自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要

PT-920B

8英寸高精度全自动探针台

适用于5～8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。尊龙凯时整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足1000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点。自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要

PT-208

双面全自动探针台

本设备适用于双向分离器件（双向可控硅、TVS等）以及需要正反面双向探针定位的芯片测试，能满足3、4、5英寸的全自动测试

PT-903II

8英寸全自动探针台

适用于4～8英寸半导体集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备有高可靠性自动上下片系统，高精度CCD视觉定位系统，自动化程度高。更具有薄片传输能力，应用面广，尤其满足大功率分立器件（IGBT、MOSFET）测试

L-11DM-PM

倒装LED测试一体机

采用专利技术的针动机构，搭载先进的驱动方式，高精度的视觉定位系统，测试行程兼容 6 英寸芯片，可完成 4 英寸扩张 1.2 倍晶圆的自动测试

L-10MC-W4

正装LED测试一体机

本设备适用于大圆片抽测或分选后BIN回测工艺段，可满足正装4、6英寸LED 已切割晶圆的自动测试

L-10MC-PM

正装LED测试一体机

本设备适配COT工艺，可满足 4~6 英寸 LED 晶圆及晶粒测试

L-11MC

正装LED测试一体机

应用于芯粒级LED正装芯片全测的多通道针卡测试一体机

L-915

正装LED测试一体机

本设备适配COW、WAT工艺，可满足4~6英寸正装LED未切割晶圆的自动抽测

L-12DM

倒装LED测试一体机

应用于芯粒级LED倒装芯片光电全测的多通道针卡测试一体机

GK-120

全自动曝光机

该机型可按照二极管芯片厂家需求定制，满足4、5、6英寸Wafer的一次曝光

GK-150

全自动曝光机

该机型可按照二极管芯片厂家需求定制，满足4、5英寸Wafer的一、二、三次曝光

AS-20

全自动晶圆光学镜检机

本设备适用于 4~8 英寸分立器件的平面类产品切割前或切割后的晶圆缺陷检测， 配置先进的金相显微光学系统， 可识别微小外观缺陷，满足常见的表面损伤、划痕、脏污、崩边等缺陷检测

SE-A7

全自动LED芯片分选机

本设备根据芯片测试机获得的光电参数以及外观检测结果进行分类，按照分类结果将芯片绑定到不同BIN承载盘上，可以实现芯片的自动扫描、合档、接续、分类和自动上下料，并生成生产管理所需的数据报表，广泛应用于LED芯片、LED封装体、5G光芯片、PD模组、光敏元件、半导体芯片的分类挑拣